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東莞市大凡光學科技有限公司
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污點線規是一種用于檢測產品中的污點、劃痕、線條等缺陷的工具。以下是關于污點線規的詳細信息和特點：定義與用途：污點線規（也稱為點規污點規、點線規、菲林尺等）主要用于產品外觀檢查，以判定污點、表面劃痕等缺陷是否符合所要求的精度范圍。它通過將被測產品的表面與污點線規上的標準點、線、面進行對照，判斷其大小、長短是否在允許的范圍內，從而確定產品是否合格。規格與參數：測量黑點直徑范圍：通常為0.10-3.00mm。測量面積范圍：一般為0.03-0.5平方毫米（m㎡）。線幅范圍：0.08-1.50mm。精度：根據具體規格而定，但一般精度較高，小線寬可達0.01mm，點線規測量卡廠，點大小可達0.1mm。使用方法：將污點線規（A4或四分之一A4大小）放置于被測產品的表面。對照污點線規上的標準點、線、面，判斷產品上的污點、劃痕等缺陷是否在規定范圍內。若缺陷大小在標準范圍內，則產品合格；否則不合格。
應用行業：污點線規廣泛應用于電子廠、電鍍廠、油漆廠等需要高精度外觀檢查的行業中。它特別適用于測量、對比手機外殼、LENS、DISPLAY等部件的點、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準。類型與分類：污點線規有多種類型和規格，包括純點的污點線規、污點卡、污點對比卡等。這些不同類型的污點線規適用于不同的檢測需求，可以根據實際需要進行選擇。注意事項：在使用污點線規時，應確保其與被測產品表面緊密貼合，以避免因間隙導致的誤判。污點線規應定期清潔和維護，以保持其精度和可靠性。不同規格和類型的污點線規可能具有不同的使用方法和檢測標準，因此在使用前應仔細閱讀說明書并遵循相關操作規范。
在面的測量中，點線規可以通過多點測量和數據處理，構建出二維平面的形狀和尺寸。例如，六安點線規測量卡，在地圖測繪、建筑設計等領域，點線規測量卡工藝，點線規可以配合其他測量工具，通過多點定位和數據整合，實現對面狀區域的準確測量和繪制。這種從點到面的拓展，點線規測量卡公司，使得點線規的應用范圍得到了極大的擴展，滿足了更多復雜場景的測量需求。同時，隨著數字化技術的發展，點線規的拓展應用也變得更加智能化和自動化。通過引入傳感器和算法，點線規可以實現對二維平面的自動掃描和數據處理，大大提高了測量效率和準確性。這種智能化和自動化的拓展，使得點線規在面狀區域的測量中發揮著越來越重要的作用。
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第2年
