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x射線發生裝置使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感、氣體電離，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
x射線發生裝置角度校準的光學新方法
目前x射線發生裝置的角度檢定和校準測試主要依據JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件，具體方法是采用光學經緯儀或多面棱體等進行測試，該測量方法實際應用中存在一定難度，其次測量間隔較大，不能很好反映真實的角度誤差規律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，中能x射線發生裝置報價，組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器，設計了一種新的XRD的角度校準方法，它能夠自動快速地連續測量角度，取k=2時，中能x射線發生裝置多少錢，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數據，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統等其他需要角度校準的情況.
x射線發生裝置解決哪些問題？
（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，中能x射線發生裝置哪家好，確定材料的結晶程度。
（3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，中能x射線發生裝置，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。
（4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
（5）納米材料由于顆粒細小，極易形成團粒，采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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第6年
