長治膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測厚儀-英飛思科學

詢盤留言 |投訴|申領|刪除 產品編號：590117390 更新時間：2025-01-09

蘇州英飛思科學儀器有限公司

主營業務：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
公司官網：www.esi-xrf.cn
公司地址：蘇州工業園區唯新路69號一能科技園2號樓407室

業務熱線： 18962189136 (張經理先生)

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物流說明 : 貨運及物流
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測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。蘇州英飛思科學儀器有限公司

它以PLC和工業計算機為，膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測厚儀，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

蘇州英飛思科學儀器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.

公司logo和英文縮寫為ESI。

英飛思ESI坐落于美麗而現代的蘇州工業園。

XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內完成。

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