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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
主營(yíng)：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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測(cè)厚儀
材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測(cè)厚儀，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確，快速，無損，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快。可同時(shí)分析多達(dá)五層材料厚度，并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。
膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測(cè)厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
>硅漂移探測(cè)器 (SDD) 作為檢測(cè)系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度。
溫馨提示：以上是關(guān)于蘇州英飛思-蘇州膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供，如果您對(duì)蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動(dòng)聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品！
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