CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的主要用途有:
1:利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;
2:利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;
3:利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4:利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5:利用25mm厚 度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6:利用R50和R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7:利用50、44和40mm三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
試塊種類很多,從不同的角度可將試塊分為不同的類別。
按試塊標準化程度分類
按試塊的標準化程度可以將試塊分為標準試塊和對比試塊:
(1)標準試塊:標淮試塊是由權l威機構制定的試塊,試塊材質、形狀、尺寸及表面狀態都由權l威部門統一規定。國l際標準試塊和各個國l家的國l家標準試塊都是標準試塊。如國l際焊接學會IIW1試塊和IIW2試塊,又如我國的CSK-IA、日本的STB-G等試塊。
(2)對比試塊:對比試塊又稱參考試塊,是由各專l業部門按檢測對象的具體要求,對材質、形狀、尺寸及表面狀態等作出規定的試塊。對比試塊與標準試塊并無本質區別。如CS-1試塊、CSK-1A試塊等。
按試塊上人工反射體形狀分類
(1) 平底孔試塊:一般平底孔試塊上加工有底面為平面的平底孔,如CS-1、CS-2試塊。
(2)橫孔試塊:橫孔試塊上加工有與探測面平行的長橫孔或短橫孔,如焊縫探傷中CSK-IA(長橫孔)和CSK-IA(短橫孔)試塊。
(3) 槽形試塊:槽形試塊上加工有三角尖或矩形槽,如無縫鋼管探傷中的所用的試塊,內、外圓表面就加工有三角尖槽。
按用途分類
按試塊的用途,可將其分為效驗試塊和靈敏度試塊。
(1) 效驗試塊:用于測試和效驗探傷儀器的技術性能指標的試塊,稱為效驗試塊。如IIW試塊即是一種效驗試塊。效驗試塊多以其特定的邊緣作為反射面,因而這種試塊往往沒有人工缺陷。一般情況下,也叫定量試塊。一般對比試塊均作為靈敏度試塊使用。
無損檢測標準試塊標識和包裝
1. 標識要求:在試塊上標注清晰的檢測參數、日期等信息,包括試塊的名稱、編號、規格等。這些信息有助于使用者了解試塊的用途和使用方法。
2. 包裝方式:采用適當的包裝方式保護試塊,防止其在運輸和使用過程中受到損壞。常見的包裝方式包括木箱包裝、泡沫包裝等。此外,還要考慮到包裝材料對試塊的影響,避免材料之間的化學反應或物理變化影響試塊的性能。
總之,無損檢測試塊,無損檢測標準試塊的制作規范是確保其使用價值和可信度的重要前提。在制作過程中,要注重選材、尺寸和形狀設計、標識和包裝等方面的細節,確保試塊的質量和穩定性滿足檢測要求。此外,對于不同材料和檢測方法的標準試塊制作,還應根據具體情況進行靈活調整和優化,以實現更加準確的檢測結果和更廣泛的應用范圍。
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